山东霍尔德电子科技有限公司
 
 
薄膜介质损耗仪
  • 品牌:霍尔德电子
  • 型号:
  • 货号:HD-JD1
  • 发布日期: 2025-06-20
  • 更新日期: 2025-06-20
产品详请
分辨率 0.1
重量
品牌 霍尔德电子
货号 HD-JD1
电源电压 220V
型号 HD-JD1
测量范围 1-1000自动/手动量程
规格
加工定制
外形尺寸
测量精度 11BIT

介质损耗和介电常数是表征电介质材料性能的关键物理参数,对于金属氧化物、工程板材、陶瓷材料(包括陶器和瓷器)、云母绝缘材料、特种玻璃以及各类塑料等高分子材料都具有重要意义。通过准确测定这些参数,可以深入分析材料组成、微观结构及外界环境条件对介电性能的影响机制,从而为优化材料配方、改进制备工艺以及开发高性能电介质材料提供重要的理论依据和实验基础。这一研究在电子元器件、电力设备、通信技术等领域具有广泛的应用价值。



薄膜介质损耗仪是一种用于准确测量材料介电性能的专业仪器,主要应用于以下领域:

1.科研机构——用于新型电介质材料的性能分析与理论研究,为材料科学领域的创新提供实验依据;

2.高等院校——作为教学与科研的重要设备,支撑材料学、物理学、电子工程等学科的实验研究;

3.工业企业——用于无机非金属材料(如陶瓷、玻璃、高分子复合材料等)的质量控制与性能优化,指导产品开发与工艺改进。

该仪器在电子元器件、绝缘材料、新能源器件等领域具有广泛的应用价值,为新型功能材料的研发与产业化提供关键测试手段。




薄膜介质损耗仪技术参数


1 信号源 DDS数字合成 10KHZ-70MHz
2 采样精度 11BIT
3 测量范围 1-1000自动/手动量程
4 分辨率 0.1
5 测量工作误差 <5%
6 电感测量范围 分辨率0.1nH
7 电感测量误差 <3%
8 调谐电容 主电容30-540pF
9 电容直接测量范围 1pF~2.5uF
10 调谐电容误差 ±1 pF或<1% 0.1pF
11 谐振点搜索 自动扫描
12 合格预置范围 5-1000声光提示
13 LCD显示参数 F,L,C,Q,Lt,Ct等
14 介质损耗系数精度 万分之一
15 介电常数精度 千分之一
16 材料测试厚度 0.1mm-10mm
17 技术 仪器自动扣除残余电感和测试引线电感。大幅提高测量精度。大电容值直接测量显示。数显微测量装置,直接读值。